滿足GB/T5097無損探傷滲透磁粉檢測要求的紫外輻照計：

1 紫外輻射源 

應(yīng)在標(biāo)稱Z大強(qiáng)度值在(365±5)nm 處和半峰全寬(FWHM)為30nm 的紫外輻射源下進(jìn)行檢測。 盡量減少環(huán)境可見光入射到被檢工件上,避免紫外線直接或間接從紫外燈照射人眼,或經(jīng)過其他光源濾 光片照射人眼。紫外輻射源在檢測前提前打開,待其輸出穩(wěn)定后進(jìn)行檢測。紫外輻照度可能因光源老 化、反射器退化或?yàn)V波片老化而發(fā)生數(shù)值變化。 檢測表面應(yīng)均勻照射。 注:陣列中單個 LED損壞會產(chǎn)生光照不均勻的現(xiàn)象。 典型紫外輻射源有水銀燈、鹵素?zé)?、氙燈?LED陣列。

2 測量 

在工作條件下,應(yīng)使用紫外輻照計測量被檢工件表面的輻照度。紫外輻照計具有圖1所示的靈敏 度響應(yīng)特性。 應(yīng)在紫外輻射源輸出穩(wěn)定后測量被檢工件表面的輻照度。對于高壓水銀燈,應(yīng)至少開啟10min后 測量。 按5.2測量環(huán)境白光照度。照度計上讀數(shù)不應(yīng)受紫外輻射干擾。 相對光譜響應(yīng)是傳感器在給定波長λ 的輻照響應(yīng)與365nm 處的輻照響應(yīng)的比值。 合適的傳感器光譜響應(yīng)曲線不應(yīng)在圖 1 所示的 ABCD 區(qū)域內(nèi)。A,B,C,D 對應(yīng)如下述要求的 極限: 

———A 任何波長的相對光譜響應(yīng)不應(yīng)超過105%; 

———B 相對光譜響應(yīng)曲線的峰值應(yīng)出現(xiàn)在355nm 和375nm 間; 

———C 313nm 波長處的相對光譜響應(yīng)值應(yīng)低于10%;

———D 405nm 波長處的相對光譜響應(yīng)值應(yīng)低于2%。

圖1為滿足要求的儀器產(chǎn)生的曲線示例。

說明: S(λ)rel———相對光譜響應(yīng); λ ———波長。

3 要求 

清除多余滲透劑時,被測工件表面的紫外輻照度應(yīng)至少為1 W/m2(100μW/cm2),環(huán)境白光照度 應(yīng)小于100lx。 

檢測時,被測工件表面的紫外輻照度應(yīng)至少為10 W/m2(1000 度應(yīng)不大于20lx。應(yīng)在工作條件下紫外輻照輸出穩(wěn)定后測量。 μW/cm2),被測工件表面的白光照 

檢測時不應(yīng)佩戴Y久性有色眼鏡或在檢測條件下使光線變暗的眼鏡。 

滲透檢測時,檢測人員應(yīng)避免高能量和長時間的紫外輻射,通常紫外輻照度小于或等于50 W/m2 (5000μW/cm2)。 

在檢測人員視場內(nèi)不應(yīng)出現(xiàn)閃爍光、其他可見光源或紫外輻射源。環(huán)境白光照度應(yīng)小于或等于 20lx。

無損檢測系統(tǒng)必須定期檢測以確保無損檢測的質(zhì)量和可靠性。該檢測包括UV-A紫外輻射強(qiáng)度和照度。GB/T 5097,DIN EN ISO 3059中描述了該試驗(yàn)方法，其中包含照度和UV-A輻照度的Z低要求及其測量符合制造商規(guī)范的校準(zhǔn)間隔，規(guī)定不少于每12個月一次，以及必須以校準(zhǔn)證書的形式提供文件。